用(yòng)于濺射(shè) DFL-800壓(yā)力傳感(gǎn)器制造(zào)的離子(zi)束濺射(shè)設備
濺射(shè)壓力傳(chuán)感器的(de)核心部(bu)件是其(qí)敏感芯(xin)體(也稱(cheng)敏感芯(xīn)片), 納米薄(bao)膜壓力(li)傳感器(qi) 大(dà)規模生(sheng)産首要(yao)解決敏(mǐn)感芯片(piàn)的規模(mó)化生産(chǎn)。一♌個典(dian)型的敏(mǐn)感芯片(pian)是在金(jin)屬彈性(xìng)體上濺(jiàn)射澱積(ji)四層或(huò)五👅層的(de)🔆薄膜。其(qi)中,關鍵(jian)的是與(yǔ)彈性體(tǐ)金屬起(qi)隔離的(de)介質絕(jue)緣膜📱和(hé)在絕緣(yuán)膜上的(de)起應變(biàn)作用的(de)功能材(cái)料薄膜(mó)。
對(duì)介質絕(jué)緣膜的(de)主要技(jì)術要求(qiu):它的熱(rè)膨脹系(xì)數與金(jīn)屬彈性(xìng)體的熱(re)膨脹系(xi)數基本(běn)一緻,另(ling)外,介質(zhi)膜的絕(jue)緣📞常數(shu)要高,這(zhe)樣較薄(bao)的薄膜(mo)會有較(jiao)高的絕(jué)緣電阻(zǔ)值。在表(biǎo)面粗糙(cao)度優于(yú) 0.1μ m的金(jin)屬彈性(xìng)體表面(miàn)上澱積(ji)的薄膜(mó)的附着(zhe)力要高(gao)、粘附牢(láo)、具🔴有一(yī)定的彈(dàn)性;在大(da) 2500με微(wēi)應變時(shí)不碎裂(liè);對于膜(mo)厚爲 5m左右的(de)介質絕(jué)緣膜,要(yào)求在 -100℃至 300℃溫度(du)範圍内(nèi)循環 5000次,在(zai)量程範(fan)圍内疲(pi)勞 106之後,介(jie)質膜的(de)絕緣強(qiáng)度爲 108MΩ /100VDC
應變(bian)薄膜一(yī)般是由(yóu)二元以(yi)上的多(duō)元素組(zǔ)成,要求(qiu)元🚶♀️素🚩之(zhi)間的化(hua)學計量(liang)比基本(běn)上與體(tǐ)材相同(tóng);它的熱(re)膨脹系(xì)數與介(jiè)質絕緣(yuán)膜的熱(rè)膨脹系(xi)數基本(běn)一緻;薄(bao)膜的厚(hou)度應該(gāi)在保證(zheng)穩👄定的(de)連續薄(bao)膜的平(píng)均厚度(du)的前提(tí)下,越薄(bao)越好,使(shi)🤟得阻值(zhí)高、功耗(hào)小、減少(shǎo)自身發(fā)熱引起(qǐ)電阻的(de)不穩定(ding)性;應變(biàn)電阻阻(zu)值🌏應在(zai)很寬的(de)溫📐度範(fan)圍内穩(wen)定,對于(yú)傳感器(qì)穩定性(xing)爲 0.1%FS時,電阻(zu)變化量(liàng)應小于(yú) 0.05%。
*,制備(bèi)非常緻(zhì)密、粘附(fù)牢、無針(zhen)孔缺陷(xian)、内應力(li)小、無雜(za)質污染(rǎn)☔、具有一(yi)定彈性(xìng)和符合(he)化學計(ji)量比的(de)高質✏️量(liang)薄㊙️膜涉(shè)及薄💃🏻膜(mó)工藝中(zhong)的諸多(duo)因素:包(bāo)括澱積(jī)材料的(de)粒子大(dà)小🔴、所帶(dài)能👈量、粒(li)子到達(da)襯🌈底基(jī)片之前(qián)的空間(jian)環境,基(jī)片的表(biǎo)面狀況(kuang)❄️、基片溫(wen)度💁、粒子(zi)的吸🐉附(fù)、晶核生(shēng)長過程(chéng)、成膜速(sù)率等等(děng)。根據薄(bao)膜澱積(jī)理‼️論模(mo)型可知(zhi)✌️,關鍵是(shi)生長層(ceng)或初期(qī)幾層的(de)薄膜質(zhì)☁️量。如果(guo)粒子尺(chǐ)寸🔞大,所(suǒ)帶🏃♂️的能(néng)量小🥵,沉(chen)澱速率(lǜ)快,所澱(diàn)積的薄(bao)膜如果(guǒ)再⭐附加(jia)惡劣環(huan)境的影(yǐng)㊙️響,例如(rú)薄膜吸(xī)附的氣(qi)體在釋(shì)放後形(xíng)成空洞(dong),雜質污(wū)染影響(xiang)元素間(jiān)的化學(xué)計量比(bi),這些都(dōu)會降低(dī)薄膜的(de)機械、電(diàn)和溫度(du)特性。
NASA《薄(bao)膜壓力(li)傳感器(qi)研究報(bào)告》中指(zhi)出,在高(gao)頻濺射(shè)中,被濺(jiàn)射材料(liào)以分子(zi)尺寸大(da)小的粒(lì)子帶有(you)一定能(neng)🈲量連續(xù)不斷的(de)穿過等(děng)離子體(ti)後在基(ji)片上澱(diàn)積薄膜(mo),這樣📱,膜(mo)質比熱(rè)蒸發澱(diàn)積薄膜(mo)緻密、附(fù)着力好(hao)。但是濺(jian)射粒📱子(zǐ)穿過等(deng)離子體(tǐ)區🔞域時(shi),吸附等(děng)離子體(tǐ)中的氣(qì)體,澱積(jī)的薄膜(mó)受到等(děng)離子體(ti)内雜質(zhi)污染和(hé)高溫不(bú)穩定的(de)熱動态(tai)影響,使(shǐ)薄膜産(chǎn)生更多(duo)的缺陷(xiàn),降低了(le)絕緣膜(mo)的強度(dù),成品率(lü)低。這些(xie)成爲高(gao)頻濺射(shè)設備的(de)技術用(yong)于批量(liang)生産濺(jian)射薄膜(mo)壓力傳(chuan)感器的(de)主要限(xiàn)制。
此外,還(hái)有幾個(ge)因素也(yě)是值得(dé)考慮的(de):等離子(zǐ)體内的(de)高👅溫,使(shi)抗蝕劑(ji)掩膜圖(tú)形的光(guang)刻膠軟(ruǎn)化,甚至(zhi)碳化。高(gao)頻濺射(she)靶,既是(shì)産生☀️等(děng)離子體(ti)的工作(zuo)參數的(de)一部分(fen),又是産(chan)😄生濺射(she)粒子的(de)工藝參(can)數的一(yi)部分🐆,因(yin)此設備(bèi)✉️的工作(zuo)參數和(hé)工藝參(cān)數互相(xiàng)制約,不(bu)能單獨(dú)各自調(diào)整,工藝(yì)掌握困(kùn)難,制作(zuo)和操作(zuo)過程複(fu)雜。
對于離(li)子束濺(jiàn)射技術(shù)和設備(bèi)而言,離(li)子束是(shì)從離子(zǐ)源等離(li)子體中(zhong),通過離(lí)子光學(xue)系統引(yin)出離子(zi)形成的(de)✏️,靶和基(jī)片置放(fàng)在遠離(li)等離子(zi)體的高(gao)真空環(huán)境内,離(li)子束轟(hong)👉擊靶,靶(bǎ)材原子(zǐ)濺射逸(yi)出,并在(zai)襯底基(jī)片上澱(dian)積成膜(mó),這⭕一過(guò)程沒有(yǒu)等離子(zi)👉體惡劣(liè)環境影(ying)響,*克服(fu)了高頻(pin)濺射✍️技(ji)術制備(bei)薄膜的(de)缺陷。值(zhí)得指出(chu)的是,離(lí)子束濺(jian)射普遍(bian)認爲濺(jiàn)射出來(lai)的是一(yī)個和幾(ji)個原子(zi)。*,原子尺(chǐ)寸比分(fèn)子尺寸(cun)小得多(duō),形成薄(báo)膜時顆(ke)粒更小(xiǎo),顆粒與(yǔ)顆粒之(zhi)間👅間隙(xi)小,能有(you)效地減(jian)少薄膜(mó)内的空(kōng)洞以及(ji)針孔缺(quē)陷,提高(gao)🙇🏻薄膜附(fù)着力和(he)增強薄(bao)膜的彈(dan)性。
離子束(shù)濺射設(she)備還有(you)兩個功(gōng)能是高(gao)頻濺射(she)設備所(suo)不具有(you)的,,在薄(bao)膜澱積(jī)之前,可(ke)以使用(yòng)輔助離(li)子源産(chǎn)生的 Ar+離子(zi)束對基(jī)片原位(wei)清洗,使(shi)基片達(dá)到原子(zǐ)級的清(qing)潔度,有(yǒu)💃利于薄(báo)膜層間(jiān)的原子(zi)結合;另(ling)外,利用(yong)這個離(li)子⚽束對(duì)正在澱(diàn)積的薄(bao)膜進行(háng)轟擊,使(shǐ)薄膜内(nei)的😍原子(zi)遷移率(lü)增加,晶(jing)核規則(zé)化;當用(yòng)氧離子(zǐ)或氮離(li)子轟擊(ji)正在生(shēng)長的薄(báo)膜時,它(ta)比用氣(qì)體分子(zǐ)更能🙇🏻有(yǒu)效地形(xíng)成化學(xué)計量比(bǐ)的氧化(hua)物、氮化(huà)物。第二(èr),形♋成等(deng)離子體(tǐ)的🙇♀️工作(zuo)參數和(hé)薄膜加(jiā)工的工(gong)藝參數(shu)可以彼(bǐ)此🥰獨立(lì)調整,不(bú)僅可以(yǐ)獲得設(she)備工作(zuò)狀态的(de)調整和(he)工藝的(de)質量控(kòng)制,而且(qiě)設備🏃♀️操(cāo)作簡單(dān)化,工藝(yì)容易🌈掌(zhang)握。
MEMS系統(tǒng)中的各(ge)種薄膜(mó)以及材(cái)料改性(xing)中的各(ge)種薄膜(mó);用于㊙️制(zhì)備其它(tā)高質量(liàng)的納米(mǐ)薄膜或(huò)微米薄(bao)膜等。本(běn)文源自(zì) 迪(dí)川儀表(biao) ,轉(zhuan)載請保(bao)留出處(chu)。
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