1短程有(yǒu)序結構變(biàn)化(K狀态)的(de)影響K型熱(rè)電偶在250℃—600℃溫(wēn)度範圍内(nèi)👅使用時，由(yóu)于其顯微(wei)結構發生(shēng)變化，形成(cheng)短程有㊙️序(xu)結構，因此(ci)将影響熱(rè)電勢值而(ér)産生誤差(cha)，這就是所(suo)謂的K 狀态(tai)。它是Ni—Cr合金(jīn)*的晶格變(biàn)化，當Cr含量(liàng)在5—30%範圍内(nei)存在着原(yuan)子晶格的(de)有序無序(xù)轉變。由此(ci)而引起的(de)誤差，因Cr含(han)量及溫度(dù)的不同而(er)變化。将K型(xing)熱電偶從(cong)300℃加熱 至800℃，每(mei)50℃取一點，測(cè)量該點電(dian)勢。在450℃時偏(pian)差大可達(dá)4℃，在🧑🏽‍🤝‍🧑🏻350—600℃範圍内(nei)✌️，均爲正偏(pian)差。由于K狀(zhuang)态的存在(zài)，使K型熱電(dian)偶在升溫(wen)或⚽降溫檢(jian)定結果不(bu)一緻，故在(zài)廉 金屬熱(rè)電偶檢定(ding)規程中明(ming)文規定檢(jiǎn)定順序🆚：由(yóu)低溫向高(gao)溫逐點升(shēng)溫檢定。而(er)且在400℃檢定(dìng)點，不僅傳(chuan)熱效果不(bu)佳，難以達(da)到熱平衡(héng)，而且，又恰(qià)好處于K狀(zhuang)态✍️誤差大(da)範圍。因此(cǐ) ，對該點判(pàn)定合格與(yǔ)否時應很(hěn)慎重。Ni—Cr合金(jīn)短🏃‍♂️程有序(xu)結構變化(hua)的現象，不(bu)僅存在于(yú)K型，而且，在(zài)E型熱電偶(ǒu)正極中也(ye)有此現象(xiàng)。但是，作爲(wèi)變化量E型(xing)熱電偶僅(jin)爲K型的2/3。總(zong) 之，K狀态與(yu)溫度、時間(jian)有關，當🏃‍♀️溫(wēn)度分布或(huo)熱電偶位(wei)置變化時(shí)，其偏差也(yě)會發生很(hen)大變化。故(gu)難以對偏(piān)差大小作(zuo)出準确評(ping)價💜。